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http://hdl.handle.net/20.500.12984/7567
Title: | Caracterización espectroscópica de defectos de impurezas e inducidos por radiación UV de baja intensidad y rayos X en películas de KCL:Eu2+ | Authors: | LOPEZ ESPARZA, RICARDO ACEVES TORRES, RAUL; 1635 |
Issue Date: | 36739 | Publisher: | LOPEZ ESPARZA, RICARDO | Abstract: | El presente trabajo es un estudio experimental y esta estructurado procurando la comprension y significado de las cantidades fisicas y de los experimento realizados, sin caer en complejidades matemáticas. En el capitulo uno se presentan algunos antecedentes y aspectos teóricos tales como estructuras cristalinas, el campo cristalino, una revisión sencilla de los tipos de centros que se pueden formar en los HA y absorción óptica. El equipo experimental utilizado y las condiciones de medida son delineados en el capitulo dos. En el capitulo tres se presentan y describen los resultados experimentales que se obtuvieron de las medidas de fluorescencia, absorción óptica y termoluminiscencia (TL), tanto para irradiación con rayos X como para UV. En el capitulo cuatro se analizan estos resultados y se discute una posible interpretación en términos de generación de centros tipo F por radiación. Al final, se presentan las conclusiones de este trabajo de investigación, la posibilidad de mejorar este tipo de películas y las perspectivas de investigación que se generan de este trabajo de tesis. | Description: | Tesis de maestría en ciencias: física | URI: | http://hdl.handle.net/20.500.12984/7567 | ISBN: | 10195 |
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