Buscar por Materia CIRCUITOS INTEGRADOS
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| Fecha de publicación | Título | Autor(es) |
|---|---|---|
| dic-2021 | Diagnostic of resistive faults in VLSI circuits applying neural networks | TOVAR PINO, MELISSA |
| ene-2023 | Diagnóstico de fallas del tipo Stuck-at en interconexiones para circuitos de pruebas implementados en un FPGA aplicando redes neuronales | PORTALES GONZÁLEZ, YAIKEL |
| may-2022 | Identificación de rutas lógicas influenciadas por acoplamientos capacitivos severos. | MEZA IBARRA, IVAN DOSTOYEWSKI |
