Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/20.500.12984/6947
Title: Producción más limpia y prevención a la contaminación en TE Connectivity
Authors: MORALES ZAVALA, NADIA LILIAN
MUNGUÍA VEGA, NORA ELBA; 123209
Issue Date: Aug-2011
Publisher: MORALES ZAVALA, NADIA LILIAN
Abstract: La industria electrónica se caracteriza por la utilización de químicos que ponen en riesgo la salud humana si no se toman las medidas precautorias indicadas, abarcando el manejo, manipulación y almacenaje de los mismos. El área de MTC pertenece a este tipo de industria que cuenta con dos tipos de riesgos importantes a atacar, como son los riesgos químicos y los ergonómicos, y que se analizan a detalle en el programa de producción más limpia que se propone. Un programa de producción más limpia favorece a las mejoras del proceso sustituyendo los materiales tóxicos, buen manejo y disposición de los residuos o eliminación de los mismos. Así pues, el diseño de un programa de producción más limpia le muestra a la empresa la situación actual de la empresa, así como las oportunidades de mejora junto con las alternativas de solución, siendo estas últimas factibles y accesibles en cuanto al costo. El logro de la eliminación, reducción y/o eliminación de los riesgos detectados permite la prevención de enfermedades y/o lesiones de tipo ocupacional debido, creando un entorno laboral más seguro. El programa propuesto para TE Connectivity comprende hasta el análisis de causa raíz de los riesgos encontrados en el área de MTC así como también el análisis técnico¬ financiero de las propuestas analizadas para la disminución y/o eliminación de los riesgos incrementando la seguridad del área.
Description: Trabajo escrito de especialización en desarrollo sustentable
URI: http://hdl.handle.net/20.500.12984/6947
ISBN: 22963
Appears in Collections:Especialidad

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
moraleszavalanadialiliane.pdf17.82 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record

Page view(s)

70
checked on Jun 22, 2023

Download(s)

80
checked on Jun 22, 2023

Google ScholarTM

Check

Altmetric


This item is licensed under a Creative Commons License Creative Commons