Caracterización óptica y eléctrica de películas delgadas de sulfuro de cadmio dopadas de cobre y plata

Abstract

En el presente estudio el sulfuro de cadmio es dopado con cobre para caracterizarlo e indagar si esta contaminación permite incrementar el potencial del material para fabricar dispositivos electrónicos, sus características morfológicas, como la superficie, la integración del cobre con el sulfuro de cadmio; y las características fotoeléctricas, como son el band gap (el cual es la energía de separación entre la banda de conducción y la banda de valencia) y transmitancia óptica. Las muestras de CdS fueron depositadas por el método de baño químico, posteriormente, fueron sumergidas en una solución que contiene nitrato cúprico y por último se les realizó un tratamiento térmico. Para analizar las muestras se les realizaron las mediciones de espectrometría (absorbancia y transmitancia), se realizó el cálculo de band gap, se hicieron mediciones de espectroscopia foto electrónica de rayos X (XPS), microscopía electrónica de barrido (SEM) y microscopía de fuerza atómica (AFM).