Detección de fallas en circuitos VLSI con el uso de algoritmos shortest path

LÓPEZ CARVAJAL, AARÓN ALEJANDRO

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Metadado	Valor	Lengua/Idioma
dc.contributor.author	LÓPEZ CARVAJAL, AARÓN ALEJANDRO
dc.creator	LÓPEZ CARVAJAL, AARÓN ALEJANDRO
dc.date.issued	2013-11
dc.identifier.isbn	1400081
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/20.500.12984/8119	-
dc.description	Tesis de ingeniería en tecnología electrónica
dc.description.abstract	El objetivo principal de este trabajo consiste en encontrar el método más efectivo para la detección de fallas en interconecciones considerando acoplamientos capacitivos para circuitos VLSI (Very Large Scale Integration) combinacionales, utilizando algoritmos Shortest Path. Para ello se evaluarán dichos algoritmos para deducir cuál es el más eficiente en cuanto al tiempo de trabajo y sus resultados.
dc.description.sponsorship	Universidad de Sonora. División de Ciencias Exactas y Naturales, 2013
dc.format	PDF
dc.language	Español
dc.language.iso	spa
dc.publisher	Universidad de Sonora
dc.rights	openAccess
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4
dc.subject.classification	INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA
dc.subject.lcc	TK7874.L66
dc.subject.lcsh	Circuitos integrados
dc.title	Detección de fallas en circuitos VLSI con el uso de algoritmos shortest path
dc.type	Tesis de Licenciatura
dc.contributor.director	GÓMEZ FUENTES, ROBERTO; 41532
dc.degree.department	Departamento de Investigación en Física
dc.degree.discipline	INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA
dc.degree.grantor	Universidad de Sonora. Campus Hermosillo
dc.degree.level	Licenciatura
dc.degree.name	Ingeniería en Tecnología Electrónica
dc.identificator	7
Aparece en las colecciones:	Licenciatura