Detección de fallas en circuitos VLSI con el uso de algoritmos shortest path

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Título :	Detección de fallas en circuitos VLSI con el uso de algoritmos shortest path
Autor :	LÓPEZ CARVAJAL, AARÓN ALEJANDRO GÓMEZ FUENTES, ROBERTO; 41532
Fecha de publicación :	nov-2013
Editorial :	Universidad de Sonora
Resumen :	El objetivo principal de este trabajo consiste en encontrar el método más efectivo para la detección de fallas en interconecciones considerando acoplamientos capacitivos para circuitos VLSI (Very Large Scale Integration) combinacionales, utilizando algoritmos Shortest Path. Para ello se evaluarán dichos algoritmos para deducir cuál es el más eficiente en cuanto al tiempo de trabajo y sus resultados.
Descripción :	Tesis de ingeniería en tecnología electrónica
URI :	http://hdl.handle.net/20.500.12984/8119
ISBN :	1400081
Aparece en las colecciones:	Licenciatura