Cálculo probabilístico en detección de fallas en circuitos VLSI

Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/20.500.12984/7890

Title:	Cálculo probabilístico en detección de fallas en circuitos VLSI
Authors:	CARREÑO ACUÑA, ÁNGEL FRANCISCO GÓMEZ FUENTES, ROBERTO; 41532 ACOSTA ENRÍQUEZ, MILKA DEL CARMEN; 36610
Issue Date:	Nov-2010
Publisher:	Universidad de Sonora
Abstract:	El objetivo principal de este trabajo consiste en determinar las probabilidades de detección de fallas en interconexiones considerando acoplamientos capacitivos para circuitos VLSI combinacionales. Algunos tipos de fallas que se llegan a presentar en algunos circuitos integrados son del tipo stuck-at, es decir que la interconexión esta conectada a GND o a VDD, es decir, stuck-at 0 o stuck-at 1.
Description:	Tesis de ingeniería en tecnología electrónica
URI:	http://hdl.handle.net/20.500.12984/7890
ISBN:	20986
Appears in Collections:	Licenciatura